提供:(一社)全国農業改良普及支援協会 ・(株)クボタ


登熟期の高温による米の品質低下の仕組みを遺伝子レベルで解明

2012年09月21日

-高温登熟耐性品種開発への利用に期待-

(独)農研機構 中央農業総合研究センター、新潟大学、(独)理化学研究所は、登熟期の高温で発生し、米の品質を損なう乳白粒は、デンプン分解酵素α-アミラーゼが高温条件下で活性化されることで生じることを明らかにした。α-アミラーゼを抑制することで、高温での乳白粒の発生を低減することができることから、猛暑でも米の品質が低下しにくい高温登熟耐性品種の開発が
期待される。


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